较低稀释比熔片制样X射线荧光光谱法测定磷矿石中12种主次痕量组分

详细信息   

• 责任者：王祎亚^c国家地质实验测试中心^f助理研究员 ; 许俊玉 ; 詹秀春 ; 屈文俊
• 刊名：岩矿测试
• 出版年：2013
• 卷期：32^b1
• 关键词：磷矿床 ; 原子荧光光谱法20^a样品制备 ; 检出限 ; 精密度 ; 痕量元素分析 ; 主要元素分析 ; 次要元素分析
• 页码：58～63
• 索书号：P340.6/357-2
• 图表：^c表6参16插图
• 分类号：2300
• 文摘期号：2013/08

摘要

当前应用X射线荧光光谱熔片制样技术分析测定较低含量、低荧光产额氟组分时，准确度较低，精密度较差、检出限较高。该文运用5∶1较低稀释比熔样制片技术，采用波长色散X射线荧光光谱法测定磷矿石中11个主次量组分(F、Na₂O、MgO、Al₂O₃、SiO₂、P₂O₅、K₂O、CaO、TiO₂、MnO、TFe₂O₃)和1个痕量组分(SrO)。采用磷矿石、岩石国家一级标准物质、磷矿石管理样品和人工配制标准样品校准，经验系数法进行基体校正，结果表明12个组分分析方法的精密度和准确度较好，检出限较低，未知样品的分析结果比较满意；氟的精密度、准确度和检出限均好于文献中10∶1熔样稀释比得出的结果。该方法解决了压片制样测定氟组分，熔片制样测定其他主次量组分的技术问题，同时也降低了熔片制样技术测定氟的检出限。