JTUIS-Ⅳ型钎焊电触头超声检测系统
- 出版年：2008
- 作者：常谦；张亮亮；潘希德；王裕文
- 单位1：西安交通大学
- 出生年：1982
- 学历：硕士
- 语种：中文
- 作者关键词：超声检测；低压电器；超声成像；C扫描
- 起始页：646
- 总页数：3
- 刊名：无损检测
- 是否内版：否
- 刊频：月刊
- 创刊时间：1979
- 主管单位：中国科学技术协会
- 主办单位：中国机械工程学会；上海材料研究会
- 主编：王务同
- 地址：上海市邯郸路99号
- 邮编：200437
- 电子信箱：ndt@mat-test.com；jndt@21cn.com
- 网址：http://www.mat-test.com；http://www.chsndt.com
- 卷：30
- 期：9
- 期刊索取号：P830.6 141-1
- 数据库收录：全国中文核心期刊；中国科技核心期刊；中国科技论文统计源期刊；中国科学引文数据库来源期刊；EiPageOne和PЖ收录期刊；中国学术期刊（光盘版）收录期刊；中国期刊网收录期刊；中国核心期刊（遴选）数据库收录期刊；中国科协优秀科技期刊；国家机械行业优秀期刊；上海市优秀科技期刊
- 核心期刊：全国中文核心期刊；中国科技核心期刊；中国核心期刊（遴选）数据库收录期刊
摘要
针对触头焊接质量检测研制的JTUIS-Ⅳ超声无损检测系统，借助现代精密数控、数字信号处理及图像处理技术，通过超声回波探测触头内部结构，进行高质量C扫描成像。在不破坏电触头的前提下，获得钎焊面的焊合图像，同时可进行后期无损评估。实验验证了该系统可正确、稳定地应用于低压电触头钎焊质量检测领域。