翡翠中蜡质物和高分子聚合物充填处理尺度的判别

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• 出版年：2005
• 作者：亓利剑；袁心强；彭国桢；杨国辉
• 单位1：中国地质大学珠宝学院
• 出生年：1956
• 职称：教授
• 语种：中文
• 作者关键词：翡翠；蜡和高分子聚合物；红外吸收光谱；优化处理尺度判定
• 起始页：1
• 总页数：6
• 刊名：宝石和宝石学杂志
• 是否内版：否
• 刊频：季刊
• 创刊时间：1999
• 主办单位：中国地质大学（武汉）
• 主编：姚书振
• 地址：武汉市武昌鲁磨路
• 邮编：430074
• 电子信箱：bsx@cug.edu.cn
• 卷：7
• 期：3
• 期刊索取号：P341.806976-1
• 数据库收录：美国《化学文摘》（CA）收录期刊；中国学术期刊（光盘版）全文收录期刊；中国核心期刊（遴选）数据库收录期刊
• 核心期刊：中国核心期刊（遴选）数据库收录期刊

摘要

在翡翠的漂白、酸碱蚀、蜡质物和高分子聚合物注入等项实验研究的基础上，利用傅立叶变换红外光谱仪，重点对蜡质物和高分子聚合物充填处理翡翠的红外吸收光谱进行表征。结果表明，利用2800～3000cm^-1范围内由蜡质物和高分子聚合物（CH₂和CH₃官能团）致红外吸收谱带的相对吸收比(Ra)和其半峰宽面积(Sa)，可以对翡翠的优化与处理尺度进行判定，即：1/4