An improved linear modeling technique with sensitivity analysis for GaN HEMT
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- 作者：Danting Luo ; Li Shen and Jianjun Gao
- 刊名：International Journal of Numerical Modelling: Electronic Networks, Devices and Fields
- 出版年：2017
- 出版时间：January/February 2017
- 年：2017
- 卷：30
- 期：1
- 全文大小：1546K
- ISSN：1099-1204
文摘