Finite Element Method for Dielectric Reliability
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- ContentType：Book Chapter
- DOI：10.1007/978-0-85729-310-7_6
- Publisher：Springer London
- Author ：Cher Ming Tan ; Wei Li ; Zhenghao Gan ; Yuejin Hou
- PrintIssn_Isbn：978-0-85729-309-1
- OnlineIssn_Isbn：978-0-85729-310-7
- SubjectCategory：Engineering
- Copyright：2011
- SeriesParentPublication：Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
- Volume：0
- Pages：=131-145
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