用户名： 密码： 验证码：
Modeling,optimization and testing for analog/mixed-signal circuits in deeply scaled CMOS technologies.
详细信息   
  • 作者：Yu ; Guo.
  • 学历：Doctor
  • 年：2009
  • 导师：Li,Peng,eadvisor
  • 毕业院校：Texas A&M University
  • ISBN：9781109665390
  • CBH：3399922
  • Country：USA
  • 语种：English
  • FileSize：2737468
  • Pages：158
文摘

© 2004-2018 中国地质图书馆版权所有 京ICP备05064691号 京公网安备11010802017129号

地址：北京市海淀区学院路29号 邮编：100083

电话：办公室：(+86 10)66554848；文献借阅、咨询服务、科技查新：66554700