X射线荧光光谱仪及其分析技术的发展

详细信息    查看全文 | 下载全文 | 推荐本文 |

• 作者：赵恩好
• 会议时间：2011-07-01
• 关键词：X射线荧光光谱仪器 ; 数据处理系统 ; 结构优化 ; 元素分析
• 作者单位：沈阳地质矿产研究所,辽宁沈阳 110032
• 母体文献：第七届全国地质与地球化学分析学术报告会论文集
• 会议名称：第七届全国地质与地球化学分析学术报告会
• 会议地点：嘉峪关
• 主办单位：中国地质学会
• 语种：chi

摘要

本文论述了X射线荧光光谱仪在设备装置和配套方法方面的新状况。X射线荧光光谱仪整机现在向着小型化、智能化、多功能方面发展,仪器各部件也随着研究的深入而得到了更进一步地改进,在这一基础上,仪器可分析元素的含量范围得到了拓展,方法也得到了丰富。目前,X荧光光谱仪开发了微区面分布的元素成像分析方法、高级次谱线分析方法、薄膜分析方法等新的方法,文中将对这些新方法作以介绍,同时也对基本参数法(FP法)的新近发展作了说明。