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调功柜过热引发可控硅损坏的分析与处理
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  • 英文篇名:Analysis and Treatment of Thyristor Damage Caused by Overheating of Power Regulating Cabinet
  • 作者:武宏亮
  • 英文作者:WU Hongliang;Tangshan Tangsteel Gases Co., Ltd.;
  • 关键词:可控硅 ; 过热 ; 分析与处理
  • 英文关键词:thyristor;;overheating;;analysis and treatment
  • 中文刊名:YJDL
  • 英文刊名:Metallurgical Power
  • 机构:唐山唐钢气体有限公司;
  • 出版日期:2019-05-15
  • 出版单位:冶金动力
  • 年:2019
  • 期:No.231
  • 语种:中文;
  • 页:YJDL201905006
  • 页数:3
  • CN:05
  • ISSN:34-1127/TK
  • 分类号:20-22
摘要
介绍了唐钢气体空分系统中调功柜的工作原理和调节方法,对调功柜因负荷过大,导致可控硅因长期在高温环境下工作而击穿的问题进行了总结和分析,并制定出相应的解决措施。
        The working principle and adjusting method of the power regulating cabinet in the air separation system of Tangshan Tangsteel Gases is introduced. The problem of thyristor breakdown caused by long time working in high temperature condition due to overload of the power regulating cabinet is summarized and analyzed, and corresponding solutions are also drawn up.
引文

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