Corrigendum to ¡°An improved Wiener deconvolution filter for high-resolution electron microscopy images¡± [Micron 50 (2013) 1-6]

详细信息    查看全文

• 作者：Fang Lin ; Chuanhong Jin
• 刊名：Micron
• 出版年：2013
• 出版时间：September-October, 2013
• 年：2013
• 卷：52-53
• 期：Complete
• 页码：67
• 全文大小：127 K

文摘