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10.Damage accumulation during cryogenic and room temperature implantations in strained SiGe alloys
作者:Anthony Payeta ; b ; c ; anthony.payet@st.com" class="auth_mail" title="E-mail the corresponding author ; Flavia Piegas Lucea ; flavia.piegasluce@cea.fr" class="auth_mail" title="E-mail the corresponding author ; Caroline Curfsa ; caroline.curfs@cea.fr" class="auth_mail" title="E-mail the corresponding author ; Benoî ; t Mathieua ; benoit.mathieu@cea.fr" class="auth_mail" title="E-mail the corresponding author ; Benoî ; t Sklé ; narda ; benoit.sklenard@cea.fr" class="auth_mail" title="E-mail the corresponding author ; Jean-Charles Barbé ; a ; jean-charles.barbe@cea.fr" class="auth_mail" title="E-mail the corresponding author ; Perrine Batudea ; perrine.batude@cea.fr" class="auth_mail" title="E-mail the corresponding author ; Sylvain Joblotb ; sylvain.joblot@st.com" class="auth_mail" title="E-mail the corresponding author ; Clé ; ment Tavernierb ; clement.tavernier@st.com" class="auth_mail" title="E-mail the corresponding author ; Benjamin Colombeaud ; benjamin_colombeau@amat.com" class="auth_mail" title="E-mail the corresponding author ; Sofiene Guissid ; sofiene_guissi@amat.com" class="auth_mail" title="E-mail the corresponding author ; Ignacio Martin-Bragadoc ; ignacio.martin@imdea.org" class="auth_mail" title="E-mail the corresponding author ; Patrice Gergauda ; patrice.gergaud@cea.fr" class="auth_mail" title="E-mail the corresponding author
刊名:Materials Science in Semiconductor Processing
出版年:2016
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