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1. Immobilization and detection of platelet-derived extracellular vesicles on functionalized silicon substrate: cytometric and spectrometric approach

作者： Katarzyna Gajos ; Agnieszka Kamińska ; Kamil Awsiuk…

关键词：Time ; of ; flight secondary ion mass spectrometry ; Flow cytometry ; Biomarkers ; Extracellular vesicles ; Nanoparticles/nanotechnology

刊名：Analytical and Bioanalytical Chemistry

出版年：2017

2. Luminescent Eu-doped GdVO₄ nanocrystals as optical markers for anti-counterfeiting purposes

作者： Elisa Moretti ; Giorgia Pizzol ; Marina Fantin ; Francesco Enrichi…

关键词：Eu ; doped nanophosphors ; Optical identification markers ; Spray deposition ; Atmospheric pressure plasma jet

刊名：Chemical Papers

出版年：2017

3. Microstructure and Optical Properties of SS/Mo/Al₂O₃ Spectrally Selective Solar Absorber Coating

作者： Xiang-Hu Gao ; Zhi-Ming Guo ; Qing-Fen Geng…

关键词：magnetron sputtering ; microstructure ; optical properties ; spectrally selective solar absorber ; surface ; textured

刊名：Journal of Materials Engineering and Performance

出版年：2017

4. Optical and electrical properties of synthesized reactive rf sputter deposited boron-rich and boron-doped diamond-like carbon thin films

作者： A. A. Ahmad

刊名：Journal of Materials Science: Materials in Electronics

出版年：2017

5. On the Role of High Amounts of Mn Element in CdS Structure

作者： Meryem Polat Gonullu ; Salih Kose

刊名：Metallurgical and Materials Transactions A

出版年：2017

6. Effects of Post Annealing Treatments on the Interfacial Chemical Properties and Band Alignment of AlN/Si Structure Prepared by Atomic Layer Deposition

作者： Long Sun ; Hong-Liang Lu ; Hong-Yan Chen ; Tao Wang ; Xin-Ming Ji…

刊名：Nanoscale Research Letters

出版年：2017

7. Solution of the Inverse Spectroscopic Ellipsometry Problem for an Absorbing Substrate with a Dielectric Layer

作者： N. I. Stas'kov ; A. V. Shulga

关键词：spectroscopic ellipsometry ; layer on substrate ; transition layer ; layer thickness

刊名：Journal of Applied Spectroscopy

出版年：2016

8. Characterization of semicrystalline polymers after nanoimprint by spectroscopic ellipsometry

作者： Si Wang ; Johannes Rond ; Christian Steinberg ; Marc Papenheim…

刊名：Applied Physics A: Materials Science & Processing

出版年：2016

9. Optical characterization of the PtSi/Si by using spectroscopic ellipsometry

作者： Van Long Le ; Tae Jung Kim ; Han Gyeol Park…

刊名：Journal of the Korean Physical Society

出版年：2016

10. Structural, morphological and spectroscopic ellipsometry studies on sputter deposited Sb2S3 thin films

作者： M. I. Medina-Montes ; Z. Montiel-González…

刊名：Journal of Materials Science: Materials in Electronics

出版年：2016

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