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1.
纳米级电路光刻建模及
可制造性设计
研究
作者:
沈珊瑚
关键词:
光学邻近校正
;
光刻建模
;
版图轮廓
;
逆向掩模综合
;
可制造性设计
;
贝塞尔函数
;
遗传算法
;
Autonomous
;
OPC
论文级别:
博士
学位年度:2009
2.
纳米集成电路化学机械抛光工艺建模与仿真及
可制造性设计
技术研究
作者:
冯春阳
关键词:
可制造性设计
;
工艺偏差
;
化学机械抛光工艺
;
工艺建模与仿真
;
粗糙表面
;
哑元金属填充
;
覆盖线性规划
;
近似算法
论文级别:
博士
学位年度:2010
3.
集成电路局部缺陷及其相关的功能成品率和电迁徙问题的研究
作者:
姜晓鸿
关键词:
局部缺陷
;
IC关键面积
;
功能成品率
;
可靠性
;
电迁徙
论文级别:
博士
学位年度:1998
4.
纳米级电路分辨率增强技术及
可制造性设计
研究
作者:
杨祎巍
关键词:
分辨率增强技术
;
光学邻近校正
;
反向光刻技术
;
并行计算
;
可制造性模型
;
可制造性验证
论文级别:
博士
学位年度:2010
5.
纳米工艺集成电路的互连线寄生电容参数提取
作者:
朱恒亮
关键词:
工艺参数偏差
;
几何参数偏差驱动电容提取
;
随机正交多项式
;
广义随机正交多项式
;
随机配置方法
;
广义随机配置方法
;
稀疏网格
论文级别:
博士
学位年度:2009
6.
集成电路随机缺陷成品率预测技术研究
作者:
朱椒娇
关键词:
成品率预测
;
随机缺陷成品率
;
关键面积
;
缺陷模型
;
可制造性设计
;
成品率驱动设计
;
Voronoi图
;
多边形算子方法
论文级别:
博士
学位年度:2013
7.
光学邻近校正技术和版图热点管理技术研究
作者:
林斌
关键词:
分辨率增强技术
;
光学邻近校正
;
可制造性设计
;
缺陷检查
;
热点管理
论文级别:
博士
学位年度:2013
8.
铜互联工艺中的DFM方法研究
作者:
赵宇航
关键词:
可制造性设计
(DFM)
;
双重曝光
;
光学临近效应(OPC)
;
化学机械抛光(CMP)
;
铜互连
论文级别:
博士
学位年度:2009
9.
适用于超深亚微米集成电路制造与验证流程的光学邻近修正方法研究
作者:
陈晔
关键词:
光学邻近修正
;
光刻仿真
;
光刻友好的版图设计
;
可制造性设计
;
亚波长光刻
论文级别:
博士
学位年度:2008
10.
集成电路功能成品率仿真与优化技术研究
作者:
马佩军
关键词:
集成电路
;
功能成品率
;
仿真
;
关键面积
;
优化设计
论文级别:
博士
学位年度:2000
1
2
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9
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